UV-86 黃綠光表面檢查燈 wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-86系列是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統(tǒng)的照明設備和光學系統(tǒng)機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購成本。 UV-86檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長光，來做最簡單與明確的判別，可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復合光，幾乎可檢測出所有塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達30萬LX，最小可以檢測1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的檢查燈，效用增強10倍.UV-86可根據(jù)使用場景，使用便攜手持式或桌面式（上在底座上即可）。（注意：UV-89和UV-86主要的區(qū)別是，UV-86的體積小，UV-86亮度最高只有30萬LX,SL8900的最高亮度是40萬LX）
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-86參數(shù)規(guī)格
型號：UV-86-GY高照度晶圓LED檢查燈；晶圓顆粒缺陷檢查燈；Wafer表面檢查燈光 源：30W 高亮度進口LED加定制的光學鏡片； LED平均壽命是30000小時
照度：距離40cm → 20萬lx；距離30cm → 30萬 lx（我們掌握了核心技術，我們可以提供不同照度的平行燈，它們可滿足不同客戶的要求）
照射面積： 8-16cm直徑的光圈 在40cm的距離（通過調(diào)焦距調(diào)光）
調(diào)光方式： 無極調(diào)光：從0% ~ 100%；消耗功率：30 W
電源：采用110-220V電源供電（交流供電），可以24小時持續(xù)無間斷工作。
平行光強的穩(wěn)定性： > 90 ％
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-86特點
1.1個大功率LED,.真正冷光源，亮度達到30萬LX;照度相當200瓦的汞燈
2.LED使用壽命高達3萬個小時;壽命是汞燈的10倍
3.使用定制的光學透鏡和濾光片，檢查燈的均勻性能達到80%以上；
產(chǎn)品的光均勻性及光斑大小，經(jīng)檢測證實效果要優(yōu)于日、德同類產(chǎn)品。
4.發(fā)黃綠光和白光，人眼易感知且又不傷眼，可精確檢查到10um以下的刮痕或微粒子；
5. 合理的外觀設計，無風扇式散熱設計—機械散熱，能提供均勻且高亮度特殊波長和色溫的檢查光源；
6：可選擇不同波段光源：365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波；
白光：刮傷以及對不同層次的鍍膜均勻或微污染有很好的效果。
綠光：微刮傷、粉塵異物、液晶玻璃，70%以上的表面不良都可以被檢出。尤其是表面的微刮傷。
黃光：微刻模具、半導體晶圓、藍寶石。對鍍膜檢查效果不錯。
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產(chǎn)品型號 |
UV86-W白光晶圓檢查燈 |
UV86-Y黃綠光晶圓檢查燈 |
備注 |
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LED的數(shù)量和規(guī)格 |
1個進口30W 6000K LED 加定制的光學透鏡和定制濾光片 |
可以要求定制 |
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通常6000K白光，510-590NM黃綠光；有特殊要求的可以定制 |
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檢查燈的波長 |
6000K 白光 |
510-600NM黃綠光 |
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檢查燈的亮度 |
21萬LX→距離40cm； 30萬LX→距離30cm； |
20萬LX→距離40cm； 30萬LX→距離30cm； |
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我們掌握了核心技術，我們可以 提供不同照度的檢查燈，它們可滿足不同客戶的要求 |
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照射面積（單位MM） |
? 8- 16cm 在40cm的距離 |
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調(diào)光方式 |
無極調(diào)光：通過調(diào)光器0-100%調(diào)光；旋轉(zhuǎn)頭部，通過調(diào)整焦距，可以擴大和縮小照明面積 |
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使用壽命 |
30000小時 |
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尺寸和凈重 |
尺寸：73 *180毫米; 凈量：0.68KG不包含配件 |
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